耐候性試驗
Weathering Testing咨詢熱線
18566398802隨著人們對電子產品輕、薄、短、小型化和多功能化的需求,電子電路及元器件正在向進一步微型化和高度集成化方向發(fā)展。受尺寸效應的影響,即使電子材料發(fā)生局部微量腐蝕,也會導致整個電子設備系統癱瘓。隨著全球性環(huán)境污染的加劇、國際空間站面臨霉菌困擾的窘迫、我國空間站微生物腐蝕預研的需要和軍用電子裝備三防要求(防濕熱,防鹽霧,防霉菌)的提出,微量污染環(huán)境下電子材料腐蝕行為與機理研究成為亟需進行的課題。
北京科技大學鄒士文等研究了四種不同表面處理工藝的印制電路板(PCB)在霉菌環(huán)境中的腐蝕行為與規(guī)律,發(fā)現霉菌會嚴重加劇電路板的腐蝕。
Q-Fog CRH鹽霧腐蝕試驗箱可用于材料的耐腐蝕測試
霉菌能在PCB上大量生長繁殖,霉菌生長造成PCB-Cu表面有菌區(qū)域貧氧,與周圍無菌區(qū)域構成氧濃差電池,降低霉菌生長區(qū)域金屬被氧化的速率,抑制腐蝕過程,卻使得整個金屬表面SKP電位上升,導致PCB-Cu腐蝕加速。霉菌在PCB-ENIG表面微孔處發(fā)生附著繁殖,吸濕、產酸等代謝能促進微孔腐蝕的發(fā)生和發(fā)展,造成PCB-ENIG嚴重腐蝕,由于表面腐蝕產物脫落,易造成電子電路失效;同時隨著霉菌的生長,導致整個金屬表面SKP電位上升,加速PCB-ENIG的微孔腐蝕。